年度 2014
全部作者 WANG Yuan-Jay, SHIH Shang-Hong, WU Mu-Hsin, HONG Yong-Jie
论文名称 Increasing the Probe Sensitivity of Tapping Mode Atomic Force Microscopes Using a Positive Feedback Mechanism
会议名称 Chinese Control Conference
地点 中国China - 南京
着作人数 4