年度	2013
全部作者	Y. S. Huang, Y. C. Lee, S. Y. Hu, C. C. Huang, M. K. Tsai, Y. H. Weng, K. K. Tiong, C. C. Chang
论文名称	Studies of Raman and X-ray diffraction in InGaN films with different In contents
会议名称	2013 International Symposium on Nano Science and Technology
地点	102207 - Tainan
着作人数	8