年度	2014
全部作者	WANG Yuan-Jay, SHIH Shang-Hong, WU Mu-Hsin, HONG Yong-Jie
论文名称	Increasing the Probe Sensitivity of Tapping Mode Atomic Force Microscopes Using a Positive Feedback Mechanism
会议名称	Chinese Control Conference
地点	中国China - 南京
着作人数	4