年度	2014
全部作者	WANG Yuan-Jay, SHIH Shang-Hong, WU Mu-Hsin, HONG Yong-Jie
論文名稱	Increasing the Probe Sensitivity of Tapping Mode Atomic Force Microscopes Using a Positive Feedback Mechanism
會議名稱	Chinese Control Conference
地點	中國China - 南京
著作人數	4