年度	2013
全部作者	Y. S. Huang, Y. C. Lee, S. Y. Hu, C. C. Huang, M. K. Tsai, Y. H. Weng, K. K. Tiong, C. C. Chang
論文名稱	Studies of Raman and X-ray diffraction in InGaN films with different In contents
會議名稱	2013 International Symposium on Nano Science and Technology
地點	102207 - Tainan
著作人數	8